可靠性实验室

可靠性实验室主要承担产品设计、材料、工程变更的可靠性监控以及其他可靠性研究实验工作,可进行各类可靠性试验:环境老化可靠性试验、机械应力可靠性试验、可焊性可靠性试验等。


适用标准
● GB/T8554-1998● AEC-Q200 REV D 2010-6-1● GB/T2423.2-2008
● GB/T3177-2009● MIL-STD-883L:2019● GJB548B-2005
● GB/T2423.22-2012● GB/T2423.10-2019● JESD22-A119:2015
● GB/T2423.1-2008● GB/T2423.3-2016● GB/T2423.60-2008
● MIL-STD-202G● EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E:2017


序号类别设备关键参数测试项目CNAS认可
1
气候环境类温度冲击箱温度范围:+50℃~+220℃,14K/min,-80℃~~70℃,6.3K/min,温度波动度:±0.3K~±1K
高低温冲击试验,温度变化试验认可
2
高低温试验箱温度范围:-70℃~+180℃;
高/低温存储试验、高/低温负载试验,温度特性试验认可
升温3℃/min,降温1℃/min,精度: 0.2℃
3
高温试验箱温度范围:RT+10℃~+300℃
温度精度:±1.0℃
高温存储试验、高温负载试验
认可
4
温变湿热试验箱温湿度范围:10℃~95 ℃,10%~98%RH
恒定湿热试验、湿热负载试验、交变湿性试验认可
温度波动度:±0.3K,湿度波动度:±3%RH
5
稳压直流电源电压量程:0~60V,精度±0.5%Fs+3个字(10%~100%量程)
工作寿命试验认可
电流量程:0~100A,精度:±0.5%Fs+3个字(10%~100%量程)
6
蒸汽老化箱温度范围:RT+10℃~98℃;温度精度:±0.5℃
蒸汽老化试验认可
计时:1s~9999h
7
盐雾试验箱温度范围:喷雾或静置:RT~50℃;温度偏差:±1℃
中性盐雾试验

喷雾量:1~2mL/80㎝².h
相对湿度范围:>85%RH
喷雾方式:可程式喷雾(包括连续式喷雾与间断式喷雾)
8
机械类
电动振动试验系统
额定正弦/随机激振力:3kN
低频振动试验、高频振动试验、包装振动试验
认可
频率范围:5~4000Hz
最大位移p-p:25mm
最大负载:120Kg,最大空载加速度:1000m/s²,最大速度:2m/s
9
双翼跌落试验机机跌落高度:400~1500mm
自由跌落试验
试件最大重量:65Kg
冲击面板材质:铁板材质
跌落方向:满足产品棱、角、面测试,跌落方式:自由跌落
10
垂直冲击试验系统波形:半正弦波,后峰锯齿波
机械冲击试验
认可
加速度范围:半正弦波30~15000m/s²,后峰锯齿波150~1000m/s²
脉冲持续时间:半正弦波60~0.8ms,后峰锯齿波18~6ms
最大负载(含夹具):25Kg
控制精度:<3%
11
电子万能试验机
最大试验力:1KN,最大行程:1000mm
最大试验力值,断裂力值、上/下屈服强度、Rp、Rr、抗拉强度、延伸率、弯曲强度、弹性模量各种伸长及应力参数,提供应力-应变、应力-时间、应变-时间等多种曲线分析报告认可
力量精度:±0.5%,荷重精度:±0.2%
12
电磁振动试验机
频率范围:5~600Hz,精密度:0.1Hz,振幅:0-5mm,正弦波
低频振动验:包装正弦振动试验

最大负载:60Kg,最大加速度:100m/s²
13
工艺类波峰焊炉
温度范围:RT~300℃
波峰焊试验、耐焊接热试验、可焊性试验
认可
温度控制精度:±1℃
焊接角度:4~6°
适用PCB长度:30mm~300mm
双波峰
14
回流焊炉
温区:8温区
焊接不良验证试验;回流焊试验,耐焊接热试验、可焊性试验
认可
温度范围:RT~300℃
温度控制精度:±1℃
最大PCB宽度:400mm
15
锡炉温度范围:室温~+400℃耐焊接热试验、可焊性试验
认可
深度:25mm
锡槽尺寸:方形L280*W80*H70mm
浸锡角度:20°,35°,45°,90°
16
沾锡天平测定范围:-30mN~30mN
可焊性试验
认可
测定精度:±0.05mN
焊锡温度:RT~400℃
温度精度:±3℃
焊锡缸尺寸:φ65mm 深度74mm
浸渍时间:1~ 200s
浸渍深度:0.01mm~20.00mm 0.1mm/step
浸渍速度:0.1~30mm/s
平台移动范围:X轴±200mm,Y轴±30mm


实验项目

包装振动试验

包装跌落试验

板弯曲试验

端子强度试验

振动试验

机械冲击试验

可焊性试验

耐焊接热试验

蒸汽老化试验

中性盐雾试验

恒定湿热试验

工作寿命试验

低温存储试验

温度特性试验

温度变化试验

高温存储试验